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汽車電子射頻輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)-電波暗室法
- 更新時(shí)間：2021-09-10 00:00:00
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產(chǎn)品介紹
一、汽車電子射頻輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)-電波暗室法產(chǎn)品描述
依據(jù)ISO11452-2、GB/T17619、ECE-R10/04、2004-104-EC、QGDW485-2010等標(biāo)準(zhǔn)要求，對(duì)車載電子系統(tǒng)、充電樁等設(shè)備進(jìn)行輻射抗擾度測(cè)試。射頻輻射抗擾度-電波暗室法是輻射抗擾度測(cè)試的常用方法：將被測(cè)器件暴露于由天線產(chǎn)生的輻射電磁場(chǎng)中，模擬一定強(qiáng)度的電磁輻射環(huán)境進(jìn)行試驗(yàn)，考察被試品的電磁場(chǎng)輻射抗擾度能力。一般測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)范圍在10V/m-200Vm之間。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
ISO11452-2、GB/T17619、ECE-R10/04、2004-104-EC、QGDW485-2010
二、汽車電子射頻輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)-電波暗室法產(chǎn)品參數(shù)
試驗(yàn)配置：
主要測(cè)試設(shè)備：射頻信號(hào)源、功率放大器、雙通道功率計(jì)、定向耦合器、射頻開(kāi)關(guān)、場(chǎng)強(qiáng)表、高增益天線、測(cè)試軟件及其他專業(yè)配件
測(cè)試環(huán)境：半電波暗室
